仪器介绍：
品牌型号：J. A. Woollam / RC2
主要功能：测量薄膜的厚度、折射率、消光系数等光学常数。
核心参数：
1. 非接触无损测量；
2. 测量范围：数埃 ~ 微米级膜厚；
3. 光谱范围：210 nm ~ 1690 nm；
4. 光斑直径：普通 3 ~ 5 mm，微光斑 300 μm；
5. 支持多层膜拟合、毫秒级动态采集；
6. 测量时间：全穆勒矩阵测试周期 0.3 s；每个角度 @ 最优信噪比 ≤ 10 s。
放置地点：
深圳大学射频异质异构集成全国重点实验室，粤海校区汇研楼负一楼。
平台咨询邮箱：pphi@szu.edu.cn 联系地址：深圳大学粤海校区汇研楼2010室
