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晶圆光学检测系统

来源:   时间:2026-07-14  浏览量:

仪器介绍:

主要功能:该系统专用于2.5D / 3D封装,集成了2D和3D量测与检测功能。

核心参数:

1. 最大兼容8寸,支持来料particles全检、RDL缺陷全检、残胶全检、2D / 3D Bump全检、切割道全检、3D形貌全检;

2. 2D量测精度( 3σ ):2.8 倍率下≥ 3 μm ,5倍率下≥ 1.7 μm, 10倍率下≥ 0.85 μm,20倍率下≥ 0.42 μm,检测Particl能力≥ 0.2 μm;

3. 3D量测能力:支持8000万颗凸点检测@ 12寸,支持4种共面性计算方式,测量精度≤ 0.02 μm;

4. 3D测量精度: 5倍率下≥ 0.3 μm,10倍率下≥ 0.1 μm。

放置地点:

深圳大学射频异质异构集成全国重点实验室,粤海校区汇研楼负一楼。


平台咨询邮箱:pphi@szu.edu.cn     联系地址:深圳大学粤海校区汇研楼2010室


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版权所有:射频异质异构集成全国重点实验室